dunesciences  C-SMART產品

Products | C-SMART^TM TEM Grids

作為我們不斷致力于為客戶提供用于納米級表征的宜基材的長期承諾的一部分，沙丘全新的C-SMART功能化碳TEM網格現在使我們能夠提供與SiO ₂和Si ₃ N ₄ SMART TEM網格相同的許多優(yōu)勢。，但熟悉用于許多低對比度應用（包括cryoEM，電子斷層掃描和軟材料）的碳涂層TEM柵格。

Dune Sciences正在申請專有技術的碳膜功能化化學和處理技術可實現準確，可重復和簡單的樣品制備。功能化的C-SMART表面可以捕獲大量的納米顆粒，病毒，抗體和其他分析物，對于低對比度樣品特別有利。如果您的樣品前處理策略不僅需要簡單地捕獲樣品，還可以將雙功能接頭和免疫選擇性修飾劑與C-SMART Grids配合使用，可以增強染色樣品和CryoEM的目標分析物的成像性能。

C SMART網格是親水性的，可以帶正電荷或負電荷以及各種其他化學部分。功能化表面的保質期大于3個月。

B型：在400目Cu上的有孔碳上的3 nm碳膜。

類型A：在3.05毫米400目銅網格上的10納米非晶碳膜。

如右圖所示，當前有兩個網格配置。此外，沙丘目前還提供C-SMART黃金網格，這些網格預先嵌入了5-10 nm的金納米粒子基準標記物，用于電子斷層掃描。有關不同表面的特定應用程序的更多信息，請參見我們的BioGrids頁面。

C-SMART網格與傳統碳網格和我們的SiO ₂ SMART網格的優(yōu)勢比較可在此處找到。